日本機械学会2022年度年次大会
マイクロ・ナノ機械デバイスとその信頼性 Ⅳ
2022年9月14日(水) 14:45 〜 15:45 Room 8
14:45 〜 15:00
[J223-13] レーザースポット周期加熱放射測温法における黒化処理の影響
〇山藤 靖一朗1、森 猪一郎1、大槻 哲也1 (1. 株式会社べテル)
※聴講には参加登録と参加費が必要です。
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsme2022/session/4R813-16/tables?BcfQDkkrsB
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